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학술저널
저자정보
Seong-Yeon Kim (Kumoh National Institute of Technology) Yong-Hwan Lee (Kumoh National Institute of Technology) Hee-Jin Lee (Kumoh National Institute of Technology)
저널정보
한국정보기술학회 한국정보기술학회논문지 한국정보기술학회논문지 제18권 제9호(JKIIT, Vol.18, No.9)
발행연도
2020.9
수록면
43 - 50 (8page)
DOI
10.14801/jkiit.2020.18.9.43

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백 라이트를 사용하는 LCD와는 다르게 OLED디스플레이는 자가 발광을 하기 때문에, 제품 생산 시 패널의 광 특성 측정에 의한 감마 튜닝 공정의 정확도가 중요시된다. 정확한 광 계측을 위해서는 광 계측 장비가 OLED 패널을 검사할 때의 측정 각도가 +/- 2.5를 벗어나서는 안 되며, 이에 따라 패널의 기울어진 각도 측정 기술은 필수적이다. 본 논문에서는 광 계측 장치에 놓인 OLED 패널의 영상을 받아 영상 처리를 통해 기울어짐을 판단하고 기울어진 각도를 계산하는 알고리즘을 개발한다. 기울어진 OLED 패널의 영상에 대한 이미지 처리 후, 이를 통해 얻어진 코너 점과 외곽선 길이를 측정한다. 다음으로, x, y축 방향의 회전각을 계산하여 액정 기울기를 얻을 수 있고, 기울기에 대한 정보를 제공하여 패널을 조정함으로써 광 계측 장비에서 요구하는 오차 범위를 만족시키도록 한다. 본 알고리즘에 의하여 계산된 기울기와 실제 측정된 기울기를 비교한 평균 오차는 1.09°도로 측정방법의 유효성이 검증되었다.

목차

Abstract
요약
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Grayscale
Ⅲ. Blurring and Corner Detection
Ⅳ. Algorithm
Ⅴ. Experiment
Ⅵ. Results
References

참고문헌 (9)

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