Influence of bending strain on $I_c$ Degradation Behavior in YBCO Coated Conductor Tapes processed using RABiTS/MOD

Shin, Hyung-Seop; Dizon, John Ryan C.; Bonifacio, Rolly; Park, Jeong-Soo

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자료유형: 학술저널

저자정보: Shin, Hyung-Seop (School of Mechanical Engineering, Andong National University) Dizon, John Ryan C. (School of Mechanical Engineering, Andong National University) Bonifacio, Rolly (School of Mechanical Engineering, Andong National University) Park, Jeong-Soo (School of Mechanical Engineering, Andong National University)

저널정보: 한국초전도저온학회 한국초전도·저온공학회논문지 한국초전도·저온공학회논문지 제9권 제2호

발행연도: 2007.1

수록면: 11 - 14 (4page)

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The critical current, $I_c$, degradation behaviors with bending strain were investigated in a commercially available YBCO coated conductor tape. In particular, the strain reversibility of $I_c$ and the influence of repeated bending on $I_c$ have been studied. Also, repeated bending at 77 K was done in order to understand the Ie behavior under cyclic bending strains. A reversible behavior of $I_c$ has been found up to a high bending strain of 1.60% for the RABiTS/MOD processed CC sample with copper reinforcement. Under repeated bending, the Ie showed a 95% $I_c$ retention up to 100 cycles for bending strains of 1.0% or less. The n-value behavior showed a good agreement with the $I_c$ degradation behavior, representing that any cracking did not occur on the YBCO film resulting from the reinforcement provided by the copper stabilizers.

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Shin, Hyung-Seop

소속기관 Department of Mechanical Design Engineering, Andong National University

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논문수 22 이용수 5

Dizon, John Ryan C.

소속기관 Department of Mechanical Design Engineering, Andong National University

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Bonifacio, Rolly

소속기관 School of Mechanical Engineering, Andong National University

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Park, Jeong-Soo

소속기관 School of Mechanical Engineering, Andong National University

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

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