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저자정보
윤대식 (충남대학교 고기능성 자성재료 연구센터) 박범찬 (충남대학교 고기능성 자성재료 연구센터) 이영우 (충남대학교 고기능성 자성재료 연구센터) 이영 (충남대학교 고기능성 자성재료 연구센터) 김종오 (Department of Electronic Engineering, Tohoku University)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회지 한국재료학회지 제14권 제3호
발행연도
2004.1
수록면
191 - 195 (5page)

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Tunnel junctions with AI-N barriers fabricated by microwave-excited plasma were studied. When the Al thickness, nitridation time, and annealing temperature were 1 nm (0.8 nm), 50 s (35 s), and $280^{\circ}C$ ($300^{\circ}C$), TMR ratio and resistance-area product (RA) were 49% (34%) and $3 ${\times}$ 10^4$ $\Omega$$\mu\m^2$ ($1.5 ${\times}$ 10^4$ $\Omega$$\mu\m^2$), respectively. In order to clarify the annealing temperature dependence of TMR ratio, the local transport properties were measured for Ta 5 nm/Cu 20 nm/Ta 5 nm$29_{76}$ $Fe_{24}$ 2 nm/Cu 5 nm/M $n_{75}$$Ir_{25}$ 10 nm/ $Co_{71}$ $Co_{29}$ 4nm/Al-N junction with Al thickness of 0.8 nm and nitridation time of 35s at various temperatures. The increase of TMR ratio after annealing at $300^{\circ}C$, where the TMR ratio of the corresponding MTJ had the maximum value of 34%, can be well explained by the enhancement of the average barrier height ($\Phi_{ave}$) and the reduction of its fluctuation. After further annealing at $340^{\circ}C$, the leakage current was observed and the TMR ratio decreaseded

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