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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
홍주일 (인하대학교 전기공학과) 황선묵 (인하대학교 전기공학과) 허창수 (인하대학교 전기공학과)
저널정보
한국안전학회 한국안전학회지 한국안전학회지 제22권 제5호
발행연도
2007.1
수록면
27 - 32 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2007

인위적인 전자파에 의한 TTL IC의 오동작 및 파괴 특성
홍주일 ,  황선묵 ,  허창수 한국안전학회지 2007.01 학술저널

2006

인위적으로 발생된 전자파에 의한 반도체 소자의 파괴 효과
홍주일 ,  황선묵 ,  황청호 외 2명 대한전기학회 학술대회 논문집 2006.07 학술대회자료

초록· 키워드

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We investigated the damage of the TTL ICs which manufactured five different technologies by artificial microwave. The artificial microwave was rated at a microwave output from 0 to 1000W, at a frequency of 2.45GHz. The microwave power was extracted into a standard rectangular waveguide(WR-340) and TTL ICs were located into the waveguide. TTL ICs were damaged two types. One is breakdown which means no physical damage is done to the system and after a reset the system is going back into function. The other is destruction which means a physical damage of the system so that the system will not recover without a hardware repair. TTL SN74S08N and SN74ALS08N devices get a breakdown and destruction occurred but TTL SN74LS08N, SN74AS08N and 74F08N devices get a destruction occurred. Also destructed TTL ICs were removed their surface and a chip conditions were analyzed by SEM. The SEM analysis of the damaged devices showed onchipwire and bondwire destruction like melting due to thermal effect. The tested results expect to be applied to the fundamental data which interprets the combination mechanism of the semiconductors from artificial microwave environment.
#artificial microwave #TTL IC #semiconductor #breakdown #destruction

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