Electrical stabilities of half-Corbino thin-film transistors with different gate geometries

Jung, Hyun-Seung; Choi, Keun-Yeong; Lee, Ho-Jin

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자료유형: 학술저널

저자정보: Jung, Hyun-Seung (MEMS Display and Sensor Laboratory, School of Electronic Engineering, Soongsil University) Choi, Keun-Yeong (MEMS Display and Sensor Laboratory, School of Electronic Engineering, Soongsil University) Lee, Ho-Jin (MEMS Display and Sensor Laboratory, School of Electronic Engineering, Soongsil University)

저널정보: 한국정보디스플레이학회 Journal of information display Journal of information display 제13권 제1호

발행연도: 2012.1

수록면: 51 - 54 (4page)

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In this study, the bias-temperature stress and current-temperature stress induced by the electrical stabilities of half-Corbino hydrogenated-amorphous-silicon (a-Si:H) thin-film transistors (TFTs) with different gate electrode geometries fabricated on the same substrate were examined. The influence of the gate pattern on the threshold voltage shift of the half-Corbino a-Si:H TFTs is discussed in this paper. The results indicate that the half-Corbino a-Si:H TFT with a patterned gate electrode has enhanced power efficiency and improved aperture ratio when compared with the half-Corbino a-Si:H TFT with an unpatterned gate electrode and the same source/drain electrode geometry.

#half-Corbino #thin-film transistor #bias-temperature stress #current-temperature stress #gate geometry

참고문헌 (12)

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C.R. Kagan / 2003 / Thin-Film Transistors / Marcel Dekker

W.H. Wolf / 1998 / Modern VLSI Design, 3nd ed / Prentice-Hall

R. Schmechel / 2003 / Proc. SPIE 5217 :101

R.F. Bianchi / 2005 / J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys 43:74

N. Matsuki / 2004 / Semicond. Sci. Technol 19

이 논문의 저자 정보

Jung, Hyun-Seung

소속기관 MEMS Display and Sensor Laboratory, School of Electronic Engineering, Soongsil University

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

논문수 1 이용수 1

Choi, Keun-Yeong

소속기관 MEMS Display and Sensor Laboratory, School of Electronic Engineering, Soongsil University

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

논문수 1 이용수 1

Lee, Ho-Jin

소속기관 숭실대학교 정보통신전자공학부 MEMS Display and Sensor Lab.

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

논문수 3 이용수 2

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