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학술저널
저자정보
Kim, Yang-Soo (Department of Materials Science and Engineering, Chungnam National University) Kim, Jong Heon (Department of Materials Science and Engineering, Chungnam National University) Kim, Hyun-Suk (Department of Materials Science and Engineering, Chungnam National University)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회지 한국재료학회지 제26권 제1호
발행연도
2016.1
수록면
42 - 46 (5page)

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The properties of zinc oxynitride semiconductors and their associated thin film transistors are studied. Reactively sputtered zinc oxynitride films exhibit n-type conduction, and nitrogen-rich compositions result in relatively high electron mobility. Nitrogen vacancies are anticipated to act as shallow electron donors, as their calculated formation energy is lowest among the possible types of point defects. The carrier density can be reduced by substituting zinc with metals such as gallium or aluminum, which form stronger bonds with nitrogen than zinc does. The electrical properties of gallium-doped zinc oxynitride thin films and their respective devices demonstrate the carrier suppression effect accordingly.

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