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학술저널
저자정보
Cho, Jun-Young (Department of Materials Science and Engineering, Seoul National University) Jin, Woo-Chan (Department of Materials Science and Engineering, Seoul National University) Bae, Sung-Hwan (Nano Materials Science and Engineering, Kyungnam University) Park, Chan (Department of Materials Science and Engineering, Seoul National University)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회지 한국재료학회지 제29권 제3호
발행연도
2019.1
수록면
137 - 142 (6page)

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The microstructure, phase, and mechanical properties of three aged porcelain insulators which were manufactured in different years (1973, 1995 and 2008) and which were used in the field for different amounts of time, were investigated. With X-ray 3D computed tomography (CT), defects with ~mm size can be detected without destroying the aged insulators. Defects of small specimens, which are cut from the aged insulators and polished, are analyzed with optical and scanning electron microscopy (OM and SEM), and defects of um size are detected by OM and SEM. The number and size of defects in all the aged insulators are similar. Porcelain insulators manufactured in 1973 contain more $SiO_2$ (quartz and cristobalite) than those manufactured in 2008. Those manufactured in 2008 contain more $Al_2O_3$ than those manufactured earlier. The Vickers hardness of the insulator manufactured in 1973 has the lowest value. The formation of the cristobalite ($SiO_2$) in the insulator manufactured in 1973 which can come from the phase transformation of quartz can cause stress in the insulator by formation of microcracks, which can lead to the low hardness of the insulator.
#aged porcelain insulator #microstructure #X-ray CT #mechanical property

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J. S. T. Looms / 1988 / Insulators for High Voltages / Peter Peregrinus Ltd. :1 google schola G. Vaillancourt / 1994 / IEEE Trans. Power Delivery 9:208 google schola X. Wang / 1998 / IEEJ Trans. Fund. Mater 118:502 google schola H. M. Schneider / 1989 / IEEE Trans. Power Delivery 4:2214 google schola P. Lambeth / 1971 / Proc. Inst. Electr. Eng 118:1107 google schola

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