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자료유형
학술저널
저자정보
Kim, Hyun-Ki (Radiation Detection and Medical Imaging Lab, Dept. of Nucl. and Quant. Engineering, KAIST) Bae, Jun-Hyung (Radiation Detection and Medical Imaging Lab, Dept. of Nucl. and Quant. Engineering, KAIST) Cha, Bo-Kyung (Radiation Detection and Medical Imaging Lab, Dept. of Nucl. and Quant. Engineering, KAIST) Jeon, Ho-Sang (Radiation Detection and Medical Imaging Lab, Dept. of Nucl. and Quant. Engineering, KAIST) Kim, Jong-Yul (Radiation Detection and Medical Imaging Lab, Dept. of Nucl. and Quant. Engineering, KAIST) Kim, Chan-Kyu (Radiation Detection and Medical Imaging Lab, Dept. of Nucl. and Quant. Engineering, KAIST) Cho, Gyu-Seong (Radiation Detection and Medical Imaging Lab, Dept. of Nucl. and Quant. Engineering, KAIST)
저널정보
대한방사선방어학회 방사선방어학회지 방사선방어학회지 제34권 제1호
발행연도
2009.1
수록면
25 - 30 (6page)

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Micro-columnar CsI(Tl) is the most popular scintillator material which is used for many indirect digital X-ray imaging detectors. The light scattering at the surface of micro-columnar CsI(Tl) scintillator was studied to find the correlation between the surface roughness and the resultant image resolution of indirect X-ray imaging detectors. Using a commercially available optical simulation program, Light Tools, MTF (Modulation Transfer Function) curves of the CsI(Tl) film thermally evaporated on glass substrate with different thickness were calculated and compared with the experimental estimation of MTF values by the edge X-ray image method and CCD camera. It was found that the standard deviation value of Gaussian scattering model which is determined by the surface roughness of micro-columns could certainly change the MTF value of image sensors. This model and calculation methodology will be beneficial to estimate the overall performance of indirect X-ray imaging system with CsI(Tl) scintillator film for optimum design depending on its application.
#Micro-columnar #CsI #Tl) #Scintillator #X-ray Detector #Surface Roughness #Simulation

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