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자료유형
학술저널
저자정보
Kim, Young-Kuk (Korea Institute of Materials Science, ISEM) Yoo, Jai-Moo (Korea Institute of Materials Science, ISEM) Chung, Kook-Chae (Korea Institute of Materials Science, ISEM) Shin, Pyung-Woo (Changwon National University)
저널정보
한국초전도저온학회 한국초전도·저온공학회논문지 한국초전도·저온공학회논문지 제10권 제2호
발행연도
2008.1
수록면
20 - 23 (4page)

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[ $La_2Zr_2O_7$] (LZO) buffer layers were deposited on biaxially textured Ni-W substrates by chemical solution deposition method (CSD). In this study, the effect of $B_2O_3$ addition on texture and surface roughness of LZO films was investigated. The alkoxide-based precursor solution was employed to synthesize the precursor solution of LZO and the solution was coated on biaxially textured Ni-W substrates and subsequently annealed at $900^{\circ}C$ for crystallization. The pure LZO film without $B_2O_3$ addition showed a (222) reflection in the X-ray diffraction (XRD) profile. The intensity of (222) reflection was enhanced and more rough surface was obtained after further repetition of coating. Contrary to this, the LZO film prepared by $B_2O_3$ added precursor solution shows well-developed (400) reflection peak in the XRD profile and excellent biaxial texture (${\Delta}{\theta}=4.3^{\circ}$, ${\Delta}{\phi}=6.8^{\circ}$). The surface roughness of LZO films were also improved by addition of $B_2O_3$ even after multicoating ($R_{rms}{\sim}3.1nm$). It was shown that the LZO film with smooth surface and biaxial texture was grown on the biaxially textured Ni-W substrates with addition of $B_2O_3$ in the precursor solution.

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