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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2012.1
- 수록면
- 39 - 44 (6page)
이용수
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Electronics in modern lives have become more miniaturized and precise. Multi Layered Ceramic Capacitor (MLCC) occupies 50% of electronic components consisting of electronics. This high volume of the production needs high speed and more precise machine performances. The dominate parts of the production equipments are the module transporting components and the visual inspection module. Most visual inspection has been off-line because of the image processing time. In this paper, a new image processing method is proposed to reduce thousands of matrix calculation for image processing and realize on-line high speed inspection.
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참고문헌 (7)
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김기순 / 2000 / 초소형 RF-chip inductor의 외관 검사 알고리즘에 관한 연구 / 한국 신호처리∙시스템 학회논문집 1(1-1):89~96
허경무 / 2010 / BGA 솔더볼 외관검사 시스템 개발 / 2010년도 정보 및 제어 심포지엄(ICS’2010) :57~59
Hong-Dar Lin. / 2007 / Computer-aided visual inspection of surface defects in ceramic capacitor chips / Journal of Materials Processing Technology 189(1-6):19~25
조태훈 / 2010 / 하나의 웨이퍼 전체 영상을 이용한 웨이퍼 Pre-Alignment 시스템 / 반도체디스플레이기술학회지 9(3):47~51
김현진 / 1997 / WindowNT 기반의 다중 스레드를 이용한 IC 리드프레임 검사시스템 / 대한전자공학회 학술대회 :511~514
허경무 / 2010 / BGA 솔더볼 외관검사 시스템 개발 / 2010년도 정보 및 제어 심포지엄(ICS’2010) :57~59
Hong-Dar Lin. / 2007 / Computer-aided visual inspection of surface defects in ceramic capacitor chips / Journal of Materials Processing Technology 189(1-6):19~25
조태훈 / 2010 / 하나의 웨이퍼 전체 영상을 이용한 웨이퍼 Pre-Alignment 시스템 / 반도체디스플레이기술학회지 9(3):47~51
김현진 / 1997 / WindowNT 기반의 다중 스레드를 이용한 IC 리드프레임 검사시스템 / 대한전자공학회 학술대회 :511~514
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