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자료유형
학술저널
저자정보
구자명 (한국기술교육대학교 전기전자공학과) 조태훈 (한국기술교육대학교 컴퓨터공학부)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체디스플레이기술학회지 반도체디스플레이기술학회지 제10권 제1호
발행연도
2011.1
수록면
17 - 22 (6page)

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LEDs(Light Emitting Diodes) are becoming widely used and increasingly in demand. Quality inspection of the LEDs has become more important. Two-dimensional inspection systems are limited in inspection capability, so threedimensional(3-D) inspection systems are needed. In this paper, a cost-effective and simple 3-D measurement system of LED packages using phase measuring profilometry(PMP) is proposed. The proposed system uses a pico projector to project sinusoidal fringe patterns and to shift phases instead of piezocrystal. It was evaluated using extremely accurate gauge blocks, yielding excellent repeatability of about 12 um(3-sigma). 3-D measurements of various LED packages were performed to demonstrate the applicability and efficiency of the proposed system.
#LED inspection #3-D measurement system #phase measurement profilometry #PMP

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안선영 / 2008 / 반도체 광원(LED) 시장 동향 및 전망 / 정보통신산업진흥원 학술정보 주간기술 동향 (1234) google schola F. Chen / 2000 / Overview of three-dimensional shape measurement using optical methods / Opt. Eng 39(1):10~22 google schola S.S. Gorthi / 2010 / Fringe projection techniques: Whitherwe are / Opt Lasers Eng 48(2):133~140 google schola H. N. Yen / 2004 / A fast full-filed 3D measurement system for BGA coplanarity inspection / J. Adv. Manuf. Technol 24:132~139 google schola H. Yen / 2006 / Full-fild 3-D measurement of solder pastes using LCD-based phase shifting techniques / IEEE Trans. Electronics Packaging Manufacturing 29(1):50~57 google schola

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