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This paper contains analyses and development processes of the requirements to detect the possible intermittent failure in an old avionics backplane. Interconnections for signal transmission between electronic components, such as Pin-to-PCB, FPCB-to-FPCB, pin-to-FPCB, and pint-to-wire, were selected as the main cause of intermittent failure by analyzing target equipment and documents. The possibility of detecting intermittent failures occurring in the target equipment is verified by physics-of-failure analyses. In order to verify the occurrence of intermittent failures and their detectability, latching continuity circuit testers were manufactured and accelerated life tests were performed by applying temperature and vibration cycle in consideration of flight conditions. Through the above process, the detection requirements for the major intermittent failure in the target avionics backplane was developed.
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Qi, H. / 2008 / No-fault-found and Intermittent failures in electronic products / Microelectronics Reliability 45(5):663~674
Williams, R / 1998 / An investigation of cannot duplicate failure / Quality and Reliability Engineering International 14(5):331~337
Beniaminy, I / 2002 / Reducing the "No Fault Found" problem: Contributions from expert-system methods / IEEE Aerospace Conference :6
Smith, G. / 1990 / Advanced maintenance diagnostics for air force flight control / Ann. Reliability and Maintanability Symposium :394~399
Pecht, M / 1995 / Physics-of-failure:An approach to reliable product development / Journal of the IES 38(5):30~34
Williams, R / 1998 / An investigation of cannot duplicate failure / Quality and Reliability Engineering International 14(5):331~337
Beniaminy, I / 2002 / Reducing the "No Fault Found" problem: Contributions from expert-system methods / IEEE Aerospace Conference :6
Smith, G. / 1990 / Advanced maintenance diagnostics for air force flight control / Ann. Reliability and Maintanability Symposium :394~399
Pecht, M / 1995 / Physics-of-failure:An approach to reliable product development / Journal of the IES 38(5):30~34
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