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자료유형
학술저널
저자정보
정종구 (한서대학교 항공전자공학과) 지민석 (한서대학교 항공전자공학과) 홍교영 (한서대학교 항공전자공학과) 안동만 (한서대학교 항공전자공학과) 홍승범 (한서대학교 항공전자공학과)
저널정보
한국항공운항학회 한국항공운항학회지 한국항공운항학회지 제19권 제4호
발행연도
2011.1
수록면
18 - 23 (6page)

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Generally, the digital circuit card can be tested by automatic test equipment using LASAR(Logic Automated Stimulus and Response). This paper proposes the ROM data extracting algorithm which can test the digital circuit card that consists usually ROMs. We are implemented of the proposed fault detecting program by LabWindow/CVI 8.5 and the digital automatic test instrument with NI-VXI(National Instrument - Versa Bus Modular Europe eXtentions for Instrumentation) card. We also make an interface circuit board connecting the digital test instrument and the digital circuit card. It shows the good performance of getting the data from ROMs.
#결함 검출 #롬 데이터

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주간기술동향 / 2003 / 임베디드 S/W 산업 육성 정책 방향 google schola http://news.mk.co.kr/newsRead.php?year=2011&no=672256 google schola http://www.teradyne.com/atd/news/pressRoom/pressReleases/2000/05221997.html google schola Teradyne. Inc. / 2007 / M9-Series Digital Test Instrument Manual google schola Teradyne, Inc. / 1997 / LASAR 6.60 Reference Manual google schola

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