X선과 저에너지 전자선에 의한 DNA 손상

Park, Yeun-Soo; Noh, Hyung-Ah; Cho, Hyuck; Dumont, Ariane; Ptasinska, Sylwia; Bass, Andrew D.; Sanche, Leon

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자료유형: 학술저널

저자정보: Park, Yeun-Soo (Department of Physics, Chungnam National University) Noh, Hyung-Ah (Department of Physics, Chungnam National University) Cho, Hyuck (Department of Physics, Chungnam National University) Dumont, Ariane (University of Sherbrooke) Ptasinska, Sylwia (University of Sherbrooke) Bass, Andrew D. (University of Sherbrooke) Sanche, Leon (University of Sherbrooke)

저널정보: 대한방사선방어학회 방사선방어학회지 방사선방어학회지 제33권 제2호

발행연도: 2008.1

수록면: 53 - 59 (7page)

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X선과 같은 고에너지 방사선에 의한 DNA 손상 중 간접적인 손상을 확인하기 위하여 탄탈륨(Ta) 박막위에 동결건조 과정으로 만들어진 pGEM-3Zf(-) plasmid DNA 단일층(monolayer)의 박막을 만든 다음, 에너지가 1.5 keV인 Al $K{\alpha}$ X선을 0분, 3분, 7분, 10분 동안 초고진공 상태에서 이 DNA 단일층에 조사하여 평균 흡수선량(mean absorbed dose)의 변화에 따른 DNA 손상을 관찰하였다. 또한 3 eV의 낮은 에너지 전자선을 조사하여 그 결과를 X선을 조사한 경우와 비교하였다. X선과 낮은 에너지 전자선으로 조사된 plasmid DNA를 전기영동(electrophoresis) 방법을 이용해 supercoiled DNA와 unsupercoiled DNA로 분리한 후 각각을 정량적으로 분석하였다. Supercoiled DNA는 X선과 3 eV 전자선의 조사에 따른 평균흡수선량이 증가함에 따라 선형적으로 감소했다. 그와 반대로 circular DNA와 crosslinked form 1 DNA는 평균흡수선량이 증가함에 따라 선형적으로 증가했다. 이것은 supercoiled DNA가 낮은 에너지 전자와 상호작용하여 외가닥 절단(single strand break)을 일으켰고 그 결과 unsupercoiled DNA로 변화되었음을 보여준다. 본 실험을 통해 X선과 같은 고에너지 방사선에 의한 DNA의 간접적 손상이 일어남을 관찰할 수 있었고, DNA의 이온화 에너지보다 작은 에너지($0{\sim}10\;eV$)를 갖는 전자에 의해서도 DNA 손상이 일어날 수 있음을 확인할 수 있었다.

#간접적 손상 #저에너지 전자선 #해리성전자흡착 #DNA 손상 #X선

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