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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
박병훈 (대구가톨릭대학교 방사선학과) 조형욱 (대구가톨릭대학교 방사선학과) 천권수 (대구가톨릭대학교 방사선학과)
저널정보
한국방사선학회 한국방사선학회 논문지 한국방사선학회 논문지 제6권 제6호
발행연도
2012.1
수록면
477 - 481 (5page)

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엑스선 회절분석기는 비파괴적인 방법으로 시료의 정보를 정성 및 정량적으로 분석할 수 있다. 엑스선 회절분석기에는 다양한 광학소자가 사용된다. 평행빔 광학소자는 광축에 평행한 빔을 통과시키고 발산하는 빔을 제거하는 역할을 한다. 와이어 컷 제작과 스테인리스 스틸 평판을 연마하여 평행빔 광학소자를 제작하였고 엑스선 영상장치를 이용하여 그 평행도를 평가하였다. 설계된 6 mrad과 매우 가까운 6.6 mrad의 평행도를 갖는 평행빔 광학소자를 제작하였다. 엑스선 영상을 이용하면 개개의 평판의 평행도를 예측할 수 있을 뿐만 아니라 다양한 광학소자 평가에도 사용될 수 있을 것이다.
#엑스선 #회절 #엑스선 회절분석기 #엑스선 광학소자 #평행빔 광학소자

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참고문헌 (12)

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B. E. Warren / 1990 / X-ray Diffraction / Dover publications google schola B. D. Cullity / 2001 / Elements of X-ray diffraction / Prentice-Hall google schola D. M. Moore / 1997 / X-ray diffraction and the identification and analysis of clay minerals / Oxford University Press google schola B. Beckhoff / 2005 / Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis / Springer google schola U. Pietsch / 2003 / High-Resolution X-Ray Scattering / Springer google schola

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