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저자정보
김창일 (요업[세라믹]기술연구원) 정영훈 (요업[세라믹]기술연구원) 이영진 (요업[세라믹]기술연구원) 백종후 (요업[세라믹]기술연구원) 최은하 (광운대학교 전자물리학과) 정석 ([주]씨앤켐 기술연구소) 김정석 ([주]씨앤켐 기술연구소)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회지 한국재료학회지 제18권 제8호
발행연도
2008.1
수록면
422 - 426 (5page)

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The effects of an addition of $ZrO_2$ on the microstructure and electrical properties of MgO films as a protective layer for AC plasma display panels were investigated. MgO + a 200 ppm $ZrO_2$ protective layer prepared by e-beam evaporation exhibited a secondary electron emission coefficient ($\gamma$) that was improved by 21% compared to that of a pure MgO protective layer. The relative density and Vickers hardness increased with a further addition of $ZrO_2$. These results suggest that the discharge properties and optical properties of MgO protective layers are closely related to the relative density and Vickers hardness. The good optical and electrical properties of $\gamma$, at 0.080, a grain size of $19\;{\mu}m$ and an optical transmittance of 91.93 % were obtained for the MgO + 200 ppm $ZrO_2$ protective layer sintered at $1700^{\circ}C$ for 5 hrs.
#PDP #protective layer #MgO #doping

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