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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
박인규 (중부대학교 컴퓨터학과) 이완범 (탑엘이디 기업부설연구소) 최규석 (청운대학교 컴퓨터학과)
저널정보
한국인터넷방송통신학회 한국인터넷방송통신학회 논문지 한국인터넷방송통신학회 논문지 제11권 제4호
발행연도
2011.1
수록면
99 - 104 (6page)

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본 논문은 사출성형 제품에 존재하는 여러 가지의 패턴의 결함을 신경회로망을 이용하여 검출하는 방법을 제안하였다. 시스템의 성능을 향상시키기 위하여 룩업테이블을 이용하였고, 기존의 이미지 비교에 의한 방법을 지양하여 결함분류를 위한 신경회로망의 학습표본을 위한 특징점을 추출하고 결함추출과 분류알고리즘을 제안하였다. 총 500개의 사출성형 제품의 패턴에 대하여 신경회로망의 학습을 통하여 약 3%의 제품의 패턴에서 결함을 검출하였고 패턴의 직경에 대한 불량으로 대부분 분류되었다. 제안된 시스템을 이용한 결함 검출 방법은 사출성형 제품의 미세한 패턴을 검출하는 데 시간과 경비를 줄일 수 있는 효과적인 대안으로 기대한다.
#Insulator #Morphology #Quality Check #Image Processing

목차

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참고문헌 (10)

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1998 / Proceedings of the IEEE International Conference on Image Processing 1997 google schola N. Memon / 1998 / Protecting Digital Media Content / Comm. of the ACM 41(7):35~43 google schola M.D.Swanson / 1998 / Multimedia Data-Embedding and Watermarking Technologies / Proc. of the IEEE 86(6):1064~1087 google schola R. Anderson / 1996 / Information Hiding / Lecture Notes in Computer Science 1147 google schola R.Anderson / 1998 / On the Limits of Stegangoraphy / IEEE JSAC 41(7):474~481 google schola

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