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저자정보
Weon, Byung-Mook (Biomedical Imaging Center, Department of Materials Science and Engineering, Pohang University of Science and Technology [POSTECH]) Je, Jung-Ho (Biomedical Imaging Center, Department of Materials Science and Engineering, Pohang University of Science and Technology [POSTECH]) Park, Gong-Seog (LG. Philips Displays) Koh, Nam-Je (LG. Philips Displays) Barratt, David S. (LG. Philips Displays, Philips Road) Saito, Tsunenari (Tokyo Cathode Laboratory)
저널정보
한국정보디스플레이학회 Journal of information display Journal of information display 제6권 제4호
발행연도
2005.1
수록면
35 - 39 (5page)

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In this paper, we investigate the oxide cathodes for the development of reliable electron sources. Poisoning in oxide cathodes is one of the serious problems in achieving reliable electron emission. In particular, early poisoning induces poor life performance as will be demonstrated herein. The survivability of electron emission sources is significantly improved by high doping of high-speed activator. The robust oxide cathodes with 0.17 % Mg operating at about 1,050 K are expected to work for very long times (>100,000 hours). We suggest that this key idea will contribute to solving the basic problems in oxide cathodes such as poisoning or ion bombardment for high power or high frequency applications of electron sources.

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