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Lee, Seok-Woo (LG. Philips LCD R&D Center) Kang, Ho-Chul (LG. Philips LCD R&D Center) Oh, Kum-Mi (LG. Philips LCD R&D Center) Kim, Eu-Gene (LG. Philips LCD R&D Center) Park, Soo-Jeong (LG. Philips LCD R&D Center) Lim, Kyoung-Moon (LG. Philips LCD R&D Center) Kim, Chang-Dong (LG. Philips LCD R&D Center) Chung, In-Jae (LG. Philips LCD R&D Center)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.II
발행연도
2005.1
수록면
1,038 - 1,040 (3page)

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Linear kink effect (LKE) induced mainly by selfheating on the reliability of divided channel poly-Si TFTs has been studied. The LKE was enhanced for compact designed structure to achieve narrow bezel, which was explained by the difference in heat dissipation capability, thus self-heating immunity in TFT.

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