Contaminations of MgO Thin Films by Phosphors for the Surface and Vertical Discharge Type AC-PDP

Jen, Ko-Ruey; Kim, Sung-O; Chen, Kuang-Lang; Chen, Samuel; Lee, Chien-Pang; Huang, Chih-Ming; Hsu, Chien-Hsing

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저자정보: Jen, Ko-Ruey (Laboratory for Nanosystem and Plasma, Deptartment of Photonics and Display Institute, National Chiao Tung University) Kim, Sung-O (Laboratory for Nanosystem and Plasma, Deptartment of Photonics and Display Institute, National Chiao Tung University) Chen, Kuang-Lang (OPTO-Electronics Business Unit, Chunghwa Picture Tubes, LTD) Chen, Samuel (OPTO-Electronics Business Unit, Chunghwa Picture Tubes, LTD) Lee, Chien-Pang (OPTO-Electronics Business Unit, Chunghwa Picture Tubes, LTD) Huang, Chih-Ming (OPTO-Electronics Business Unit, Chunghwa Picture Tubes, LTD) Hsu, Chien-Hsing (OPTO-Electronics Business Unit, Chunghwa Picture Tubes, LTD)

저널정보: 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display

발행연도: 2006.1

수록면: 18 - 20 (3page)

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The panels were fabricated to characterize the contamination of Magnesium Oxide (MgO) thin films by phosphors and ion bombardments in AC-PDPs. Forty-six inch WVGA panels of the surface and vertical discharge type were manufactured. The experiment was designed to investigate the relationship between the MgO thin films and phosphor contamination caused by ion bombardments in a plasma environment to produce a life time test. The contamination of MgO thin films by phosphors was investigated by way of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).

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소속기관 Laboratory for Nanosystem and Plasma, Deptartment of Photonics and Display Institute, National Chiao

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Kim, Sung-O

소속기관 Laboratory for Nanosystem and Plasma, Department of Photonics, Display Institute, National Chiao Tun

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Chen, Kuang-Lang

소속기관 Central Research Institute, Chunghwa Picture Tubes, Ltd.

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Chen, Samuel

소속기관 OPTO-Electronics Business Unit, Chunghwa Picture Tubes, LTD.

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Hsu, Chien-Hsing

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