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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.II
- 발행연도
- 2005.1
- 수록면
- 1,576 - 1,579 (4page)
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With varying rapid thermal annealing (RTA) temperature, luminescence properties of $Zn_{0.75}Mg_{0.25}S:Mn$ thin film deposited by RF-magnetron sputtering technique were investigated. In this study, $Zn_{0.75}Mg_{0.25}S:Mn$ thin film phosphor showed more red emission than those of the previous studies when annealed around 600 or $650^{\circ}C$. Although all samples were deposited from identical source composition, a main peak wavelength of photoluminescence spectra of $Zn_{0.75}Mg_{0.25}S:Mn$ shifted toward shorter wavelengths depending upon increase of RTA temperature. The same dependence of wavelength on RTA temperature was also observed in cathodoluminescence as well as electroluminescence measurements. It was revealed that the change of the luminescence properties were originated from structural changes in $Zn_{0.75}Mg_{0.25}S:Mn$ thin film phosphor from cubic to hexagonal phases analyze using conventional X-ray pole figure mapping. The phase transition would be the origin of luminescence property changes with respect to RTA temperature.
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