Effects of MgO Thin Film Thickness and Deposition Rate on the Relative Life Time of ac PDP

Choi, Min-Seok; Lee, Young-Kwon; Ham, Myung-Soo; Choi, Joon-Young; Kim, Dong-Hyun; Lee, Ho-Jun; Park, Chung-Hoo

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저자정보: Choi, Min-Seok (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Lee, Young-Kwon (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Ham, Myung-Soo (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Choi, Joon-Young (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Kim, Dong-Hyun (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Lee, Ho-Jun (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Park, Chung-Hoo (Department of Electrical Engineering, Pusan National University)

저널정보: 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2003년도 International Meeting on Information Display

발행연도: 2003.1

수록면: 778 - 783 (6page)

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For ac Plasma Display Panel (PDP), the lifetime should be guaranteed over 30000 hours. The lifetime is correlated with the deterioration characteristics for the weakest element in ac PDP. In this paper, in order to improve the lifetime of ac PDP, a short-term relative lifetime test method for a given element in the ac PDP is proposed. By this method, the effects of MgO thin film thickness and deposition rate on the relative lifetime of ac PDP are investigated. The relative lifetime is increased with MgO thin film thickness but it was almost saturated over 5000. The relative lifetime decreased with increase in the MgO deposition rate and increased with Xe% in the working gas of He+Ne+Xe..

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Lee, Young-Kwon

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