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저자정보
Ha, Chang-Hoon (School of Electrical & Computer oEngineering, Seoul National University) Jeong, Dong-Chul (School of Electrical & Computer oEngineering, Seoul National University) Kim, Tae-Jun (School of Electrical & Computer oEngineering, Seoul National University) Bae, Hyun-Sook (School of Electrical & Computer oEngineering, Seoul National University) Whang, Ki-Woong (School of Electrical & Computer oEngineering, Seoul National University)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2003년도 International Meeting on Information Display
발행연도
2003.1
수록면
109 - 112 (4page)

이용수

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In this paper, we investigated the phosphor degradation characteristics on the ultra violet ray (UV) irradiation as well as ion bombardment. We propose a novel experiment method which is related with phosphor degradation causes. The phosphor deterioration experiments were made on the UV irradiation as well as ion bombardment. To carry out the experiment and compare the results, we made up the specific experimental setup. The results show that the deterioration by ion damage is more rigorous than that by vacuum ultra violet (VUV) on the phosphor efficiency.

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