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자료유형
학술저널
저자정보
김종태 (부경대학교 화상정보공학부) 김지홍 (부경대학교 화상정보공학부) 김원호 (서남대학교 물리학과)
저널정보
한국인쇄학회 한국인쇄학회지 한국인쇄학회지 제18권 제1호
발행연도
2000.1
수록면
47 - 58 (12page)

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Transmittances of SiO2 and ZrO2 thin films, made by the electron beam evaporation method, were measured with a spectrophotometer to be used in determining their optical constants and thicknesses in the envelop method. New color glass lenses with high transmittance, which now can be manufactured in the industry, was successfully designed by using these constants. Also the vacuum evaporator could be mechanically corrected with these constants as correction factors.

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