Fabrication and characterization of $YBa_2Cu_3O_7$ step-edge Josephson junctions prepared on sapphire substrates

Lim, Hae-Ryong; Kim, In-Seon; Kim, Dong-Ho; Park, Yong-Ki; Park, Jong-Chul

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자료유형: 학술저널

저자정보: Lim, Hae-Ryong (Korea Research Institute of Standards and Science) Kim, In-Seon (Korea Research Institute of Standards and Science) Kim, Dong-Ho (Department of physics, Yeungnam University) Park, Yong-Ki (Korea Research Institute of Standards and Science) Park, Jong-Chul (Korea Research Institute of Standards and Science)

저널정보: 한국초전도학회 Progress in superconductivity Progress in superconductivity 제1권 제2호

발행연도: 2000.1

수록면: 146 - 150 (5page)

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Step edge Josephson junctions in c-axis oriented $YBa_2Cu_3O_7$ films were fabricated on $CeO_2$ buffered sapphire substrates. The step angle was controlled in the wide range of $20^{\circ}\sim75^{\circ}$ by the Ar ion milling technique. I-V curves of junction fabricated on the thickness ratio of $\sim$0.8 and the step angle of $35^{\circ}$ were exhibited RSJ-like behavior with $I_CR_N$ product of $\sim250{\mu}A$ and critical current density of $\sim2\times10^4A/cm^2$ at 77 K. Critical current of step edge junction was increased linearly with decreasing temperature but the normal resistance was almost constant. Total samples of step edge Josephson junction was satisfied a scaling behavior of $I_CR_N{\propto}(J_C)^{0.5}$.

#Step edge junction #YBCO #sapphire substrate #$CeO_2$ buffer layer

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