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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
황금주 (충북대학교 전자공학과) 조태원 (충북대학교 전기전자컴퓨터 공학부)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체및디스플레이장비학회지 반도체및디스플레이장비학회지 제5권 제1호
발행연도
2006.1
수록면
5 - 11 (7page)

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One of the most important is to insure that a new circuit design is qualified far release before it is scheduled for manufacturing, test, assembly and delivery. Due to various causes, there happens to be a low yield in the wafer process. Wafer test is a critical process in analyzing the chip characteristics in the EDS(electric die sorting) using analytic tools -wafer map, wafer summary and datalog. In this paper, we propose new analytic map algorithms for DDI chip test data. Using the proposed analytic map algorithms, we expect to improve the yield, quality and analysis time.
#DDI #Display Driver IC) #Wafer Map #Parameter Map #Pin Map #Limit Map

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