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황보훈 (성균관대학교 전기전자컴퓨터공학부) 최세용 (성균관대학교 전기전자컴퓨터공학부) 강준선 (성균관대학교 전기전자컴퓨터공학부) 나완수 (성균관대학교 전기전자컴퓨터공학부) 김정호 (성균관대학교 금속재료공학부) 주진호 (성균관대학교 금속재료공학부)
저널정보
한국초전도저온학회 한국초전도저온공학회 학술대회 한국초전도저온공학회 2000년도 KIASC Conference 2000 / 2000년도 학술대회 논문집
발행연도
2000.1
수록면
166 - 169 (4page)

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Usually, the critical current of jointed BSCCO tapes degrades quite a bit compared to the normal unjointed tape regions. It has been thought that the current redistribution around the jointed region is the main cause it. We experimentally found the linear voltage components around the jointed area, especially in the transition region, which suggests that the current redistribution around the jointed area is the main reason of the critical current degradations.

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