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자료유형
학술대회자료
저자정보
Penczek, John (National Institute of Standards and Technology) Kelley, Edward F. (National Institute of Standards and Technology) Kim, Seung-Kwan (Korea Research Institute of Standards and Science)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2008년도 International Meeting on Information Display
발행연도
2008.1
수록면
1,355 - 1,357 (3page)

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Reflection measurements are critical to the evaluation of display performance under ambient illumination conditions. Various hemispherical reflection methods are evaluated for their suitability and robustness across display technologies. The standard integrating sphere method is compared to a sampling sphere apparatus.
#diffuse reflectance #integrating sphere #display reflection measurements

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