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자료유형
학술대회자료
저자정보
Shin, Dong-Soo (Department of Applied Physics, Hanyang University) Sun, Raymond (SpatiaLight, Inc.) Jin, Michael (SpatiaLight, Inc.)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
발행연도
2004.1
수록면
951 - 954 (4page)

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We report the recent reliability test results of SpatiaLight's liquid crystal on Silicon (LCOS) microdisplays. Two different types of reliability tests have been performed: 1) thermal and 2) thermal with high intensity UV light. Various important device parameters were regularly monitored including the contrast ratio, color uniformity, and switching time. The test data shows that there are no degradations that fail the pass criteria. Lifetime estimations are given from the test data.

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