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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
Sakariya, Kapil (Dept. of Electrical and Computer Engineering, University of Waterloo) Sultana, Afrin (Dept. of Electrical and Computer Engineering, University of Waterloo) Ng, Clement K.M. (Dept. of Electrical and Computer Engineering, University of Waterloo) Nathan, Arokia (Dept. of Electrical and Computer Engineering, University of Waterloo)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
발행연도
2004.1
수록면
749 - 752 (4page)

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Unlike OLEDs, there is no lifetime testing procedure for TFTs. In this work, we have defined such a procedure and developed a method for the accelerated stress testing of TFT pixel circuits in a-Si AMOLED displays. The acceleration factors derived are based on high current and temperature stress, and can be used to significantly reduce the testing time required to guarantee a 20000-hour display backplane lifespan.

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