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저자정보
Liu, Weimin (ELCOS Microdisplay Technology Inc.) Liu, Joe (ELCOS Microdisplay Technology Inc.) Liu, Vincent (ELCOS Microdisplay Technology Inc.) Chiang, Wei Chen (ELCOS Microdisplay Technology Inc.) Cheng, Hui Lun (TSMC, Fab7, 6, Science-Based Industrial Park)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
발행연도
2004.1
수록면
373 - 376 (4page)

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The measurement of diffraction of LCOS microdisplay with various pixel size, interpixel gap, pixel height and coatings demonstrates that pixel size is the leading factor for diffraction loss, while the role of varying pixel gap is less significant comparatively. One-dimensional diffraction simulation is found to be in good agreement with the measurement. Noticeable deviation occurs when pixel size is as small as 8um.

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