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저자정보
Gibour, Veronique (ELDIM.) Leroux, Thierry (ELDIM.) Bloyet, Daniel (GREYC.lSMRA, UMR6072 CNRS, University of Caen)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2002년도 International Meeting on Information Display
발행연도
2002.1
수록면
856 - 859 (4page)

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A system for high-resolution analysis of defective elementary cell (R, G or B) on Flat Panel Display (FPD) is described. Based on multiple acquisitions of low-resolution shifted images of the display, our system doesn't require a high-resolution sensor neither tedious alignment of the display, and will remain up to date even facing an important increase of the display dimensions. Our process, highly automated and thus flexible and robust, is expected to perform a full analysis in less than 60s. It is mainly intended for production tests and display classification by manufacturers.

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