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자료유형
학술대회자료
저자정보
Yoon, Chul-Oh (McScience Inc.) Kim, Hyun-Chul (McScience Inc.) Yi, Seok-Kyung (McScience Inc.) Kong, Ung-Gul (Department of Physics, Inha University) Lee, Nam-Heon (Department of Physics, Inha University) Lee, Chang-Hee (Department of Physics, Inha University)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2002년도 International Meeting on Information Display
발행연도
2002.1
수록면
137 - 140 (4page)

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The frequency response analysis of complex impedance spectra using small perturbation ac impedance spectroscopy is an informative method of OLED performance characterization and lifetime analysis. Using simple RC equivalent circuit mode,l macroscopic nonliniear transport properties of semiconductive emission/transport layers can be analyzed and parameterized. We present the bias voltage dependence and aging effect in impedance spectra measured from an ITO/CuPC/TPD/$Alq_3$/LiF/Al OLED device, and discuss possible failure mechanism based on impedance model parameters.

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