Fault Current Limiting Characteristics Dependent on Winding Direction between $1^{st}$ and $2^{nd}$ Winding of Flux-Lock Type SFCL

Lim, Sung-Hun; Choi, Hyo-Sang; Lee, Jong-Hwa; Ko, Seok-Cheol; Kang, Hyeong-Gon; Han, Byoung-Sung

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: Lim, Sung-Hun (School of Electronics&Information Engineering, Chonbuk National Uni.) Choi, Hyo-Sang (Electrical Engineering Dept. Chosun Uni.) Lee, Jong-Hwa (School of Electronics&Information Engineering, Chonbuk National Uni.) Ko, Seok-Cheol (School of Electronics&Information Engineering, Chonbuk National Uni.) Kang, Hyeong-Gon (Semiconductor Physics Research Center) Han, Byoung-Sung (School of Electronics&Information Engineering, Chonbuk National Uni.)

저널정보: 한국초전도학회 한국초전도학회 High Temperature Superconductivity 한국초전도학회 2003년도 High Temperature Superconductivity Vol.XIII

발행연도: 2003.1

수록면: 82 - 82 (1page)

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2004

Fault Current Limiting Characteristics of Flux-lock Type SFCL using Magnetic Field Application

Lim , Sung-Hun , Choi 외 10명 한국초전도학회 High Temperature Superconductivity 2004.01 학술대회자료

2003

Fault Current Limiting Characteristics Dependent on Winding Direction between $1^{st}$ and $2^{nd}$ Winding of Flux-Lock Type SFCL

Lim , Sung-Hun , Choi 외 9명 한국초전도학회 High Temperature Superconductivity 2003.01 학술대회자료

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