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학술대회자료
저자정보
김규태 (한국표준과학연구원) 홍현권 (충북대학교) 이상길 (한국표준과학연구원) 이규원 (한국표준과학연구원)
저널정보
한국초전도저온학회 한국초전도저온공학회 학술대회 한국초전도저온공학회 2002년도 학술대회 논문집
발행연도
2002.1
수록면
10 - 12 (3page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2002

$Nb/A1_2O_3/Nb$ 조셉슨 접합의 임계전류밀도 제어
김규태 ,  홍현권 ,  이규원 한국초전도·저온공학회논문지 2002.01 학술저널
Nb/$Al_{2}$$O_{3}$ /Nb 조셉슨 접합의 임계전류밀도 제어
김규태 ,  홍현권 ,  이상길 외 1명 한국초전도저온공학회 학술대회 2002.01 학술대회자료

초록· 키워드

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Single Josephson junctions of 50 $\mu$m $\times$ 50 $\mu$m were fabricated for several oxidation conditions to investigate controllabilities of critical current density ($J_{c}$) with the standard KRISS processes. Considering the self-field effect suppressing the observed critical current ($I_{c}$) at high $J_{c}$ region, we could reasonably estimate $J_{c}$ values from I-V observations. The dependence of the estimated $J_{c}$ as a function of exposure, which is equal to pressure(P) times time(t), was well fitted to a curve of $J_{c}$ ~ $(Pt)^{-0.36}$. The maximum $J_{c}$ value at the controllability margin was found to be 4 kA/$cm^{2}$ with the current equipment set up.

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