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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
김형석 (동부전자[주]) 한수진 (HYDIS[주) 이영순 (서울산업대학교 안전공학과)
저널정보
한국안전학회 한국안전학회 학술발표회 한국안전학회 2002년도 춘계 학술논문발표회 논문집
발행연도
2002.1
수록면
317 - 322 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2002

반도체 산업에 적용 가능한 HAZOP 기법 연구
김형석 ,  한수진 ,  이영순 한국안전학회 학술발표회 2002.01 학술대회자료

1998

광역대역 간극 반도체 덮개층이 금속-반도체-금속 광검출기의 펄스 구동 특성에 미치는 영향 ( The Effect of Wide-Bandgap Cap Layer on the Performance of Metal-Semiconductor-Metal Photodetectors under Pulse-Operation )
김형석 ,  서종욱 대한전자공학회 학술대회 1998.01 학술대회자료
광역대역 간극 반도체 덮개층이 금속-반도체-금속 광검출기의 펄스 구동 특성에 미치는 영향 ( The Effect of Wide-Bandgap Cap Layer on the Performance of Metal-Semiconductor-Metal photodetectors under Pulse-Operation )
김형석 ,  서종욱 한국통신학회 광전자공학 학술회의 1998.01 학술대회자료

초록· 키워드

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위험성 편가의 목적은 현재의 위험 상태를 평가하고 이들 위험이 허용가능한가를 평가하여 시스템의 개선과 위험을 감소시기는 데 있다. 기업에서 모든 위험을 Zero화 시킨다는 것은 현실적으로 어렵기 때문에 사업장에서 발생할 수 있는 모든 이탈 상태를 파악하고, 안전경영의 우선순위를 정하여 운영해야 한다. 이에 필요한 것이 위험성 평가이며 위험성 평가의 필수적인 요소는 정량화를 통하여 허용가능성 여부를 판단하는 것에 있다.(중략)

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