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장인혁 (한국기계전기전자시험연구원) 임성용 (한국기계전기전자시험연구원) 이성재 (한국기계전기전자시험연구원) 임홍우 (한국기계전기전자시험연구원) 형재필 (한국기계전기전자시험연구원) 오근태 (수원대학교)
저널정보
한국신뢰성학회 한국신뢰성학회 학술대회논문집 한국신뢰성학회 2020 춘계학술대회
발행연도
2020.7
수록면
136 - 141 (6page)

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본 논문에서는 UV-LED의 가속수명 Data를 축적 및 시험법개발을 위하여 4가지 Type중 상대적으로 파장이 가장 높은 UV-A(315nm~400nm)의 제품을 선정하여, UV LED와 유사한 형태의 고장메커니즘을 갖는 일반 LED의 가속수명시험 메커니즘을 이용하여 신뢰수준을 추정하였다. 수명시험을 위한 열화 Data는 고온동작시험 383 K(110 ℃), 358 K(85 ℃), 328 K(55 ℃)에서 각각 시료 수 10 개로 진행하였으며, 제품의 수명 산출을 위해 Weibull을 통한 열화치를 확인하였다. 고장판정 기준은 제품이 동작되지 않거나 Radiometric가 초기대비 70 % 이하로 떨어질 경우 고장으로 판정하였고, 관측시간은 250 시간 간격으로 2000시간까지 열화치를 관측하였다. 이렇게 관측된 가속수명시험 데이터 분석 모듈을 이용하여 분포분석 및 가속성 검증을 수행하였고, 가속검증 결과를 바탕으로 신뢰수준 95 %에서의 B<SUB>5</SUB>, B<SUB>10</SUB> 추정치를 산출하였다.

목차

요약
1. 서론
2. UV-LED의 가속시험법 설계
3. 시험결과 및 분석
5. 결론
참고문헌

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