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자료유형
학술저널
저자정보
Young Il Kwon (Cheongju University)
저널정보
한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제20권 제2호
발행연도
2020.6
수록면
117 - 123 (7page)
DOI
10.33162/JAR.2020.06.20.2.117

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Purpose: This study develops a Bayesian burn-in procedure for products produced through a production process with a varying fraction defective.
Methods: We assume that defective items have short lifetimes and that non-defective ones never fail during their technological life. Based on this assumption, a Bayesian burn-in procedure guaranteeing the average fraction defective of a batch is developed.
Results: A Bayesian burn-in procedure that guarantee the average fraction defective is not higher than a given value p is derived using the mixed binomial prior distribution for the number of defective items in a batch with size N.
Conclusion: The stopping rules of the Bayesian burn-in procedure, the corresponding expected test time and the expected number of defective items screened out using the burn-in procedure are presented. In addition, a numerical example is provided to illustrate the use of the proposed burn-in procedure.
#Bayesian #Burn-in #Limited Failure Population #Mixed Binomial Distribution #Average Fraction Defective

목차

1. Introduction
2. The Model
3. Guaranteeing Average Fraction Defective
4. A Numerical Example
5. Concluding Remarks
References

참고문헌 (21)

참고문헌 신청
M. Dishon / 1973 / Burn-in programs for repairable systems / IEEE Trans. on Rel 22(5):265~267 google schola M. Dishon / 1976 / A model for burn-in programs for components with eliminateable defects / IEEE Trans. on Rel 25(4):259~260 google schola R. Marcus / 1974 / A sequential screening procedure / Technometrics 16(2):229~234 google schola D. G. Nguyen / 1982 / Optimal burn-in time to minimize cost for product sold under warranty / AIIE Trans 14(3):167~184 google schola W. Kuo / 1984 / Reliability enhancement through optimal burnin / IEEE Trans. on Rel 33(2):145~156 google schola

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