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이상화 (Kongju National University) 오원석 (Agency for Defense Development) 김윤재 (Agency for Defense Development) 홍익표 (Kongju National University)
저널정보
한국전기전자학회 전기전자학회논문지 전기전자학회논문지 제24권 제1호
발행연도
2020.3
수록면
1 - 8 (8page)

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본 논문에서는 전자기 주기구조인 주파수 선택 구조를 레이돔에 적용하는 과정에서 발생하는 결함요소를 해석하기 위해 반-무한배열구조 해석방법을 제안하였다. 3D 전자기 해석 소프트웨어를 이용하여 N×N 유한배열 구조를 해석 하게 되면 많은 해석시간과 메모리가 소요되는 반면 제안한 반-무한배열구조 해석을 이용하면 적은 계산시간으로 전자기성능을 비교적 정확하게 예측할 수 있다. 주기구조해석과 반-무한배열구조의 해석 결과를 비교하여 ±3% 이내의 오차를 확인하였다. 주기적으로 배열된 패턴의 중심부에 발생한 결함요소에 대해 해석과 측정결과를 비교하였으며, 일부 해석과 측정결과의 오차는 존재하지만, 성능변화 지점에서 동일한 경향성과 관심대역에서 유사한 성능저하를 확인하였으며, 반-무한배열구조 해석을 이용하여 전자기 주기구조 내 발생하는 결함요소의 해석 가능성을 확인하였다.

목차

Abstract
요약
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 결론
References

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