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Myung-sun Choi (Seoul National University) Seok-Hwan Lee (Seoul National University) Yunchang Jang (Seoul National University) Sangwon Ryu (Seoul National University) Gon-Ho Kim (Seoul National University)
저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology Applied Science and Convergence Technology Vol.23 No.6
발행연도
2014.11
수록면
357 - 365 (9page)

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A non-invasive method for ion energy distribution measurement at a RF biased surface is proposed for monitoring the property of ion bombardments in capacitively coupled plasma sources. To obtain the ion energy distribution, the measured electrode voltage is analyzed based on the circuit model which is developed with the linearized sheath capacitance on the assumption that the RF driven sheath behaves like a simple diode for a bias power whose frequency is much lower than the ion plasma frequency. The method is verified by comparing the ion energy distribution function obtained from the proposed model with the experimental result taken from the ion energy analyzer in a dual cathode capacitively coupled plasma source driven by a 100 MHz source power and a 400 kHz bias power.

목차

I. Introduction
II. Experimental Setup
III. Analysis Model of Ion Energy Distribution
IV. Results and Discussion
V. Conclusion
References

참고문헌 (16)

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