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논문 기본 정보

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저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제3권 제2호
발행연도
1994.6
수록면
203 - 206 (4page)

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동시증착법으로 성장한 CuIn₃Se_5 박막의 구조 및 광학적 특성을 XRD, SEM, 광투과 및 광반사 측정으로부터 조사하였다. XRD 측정에 의하면 CuIn₃Se_5는 정열된 Cu 빈자리와 Cu 빈자리에 In으로 대치되는 defect chalcopyrite 구조임이 확인되었다. 또한 광흡수 측정으로부터 CuIn₃Se_5는 금지대내에서 직접 전이에 의한 광흡수 특성을 보여주며, 이때 에너지띠 간격은 1.27 eV이었다. CuIn₃Se_5 박막에 대한 연구결과들은 CuIn₃Se₂의 결과들과 비교하여 논의하였다.

목차

Abstract

요약

1. INTRODUCTION

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