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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제24권 제7호
발행연도
2011.1
수록면
599 - 604 (6page)

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HgTe 나노개제물이 PbTe 기지상에 결정학적으로 정렬되며 매우 큰 스트레인을 포함하는 나노구조체를 과냉각 HgTe-PbTe 시스템의 석출 공정으로 제작하였다. 두 안정상의 격자상수 차이가 거의 없음에도 불구하고 초기 이후 단계의 석출 단계에서 부터 HgTe 나노개제물은 초기의 구형 HgTe 핵으로 부터 형태 변이되어 나노디스크 형태로 존재하는 것으로 관찰되었다. 이의 주요 원인으로 본 연구에서는 초기 격자상수의 불일치의 형성을 제시하였다. 형성된 나노개제물이 디스크 형태로 존재하고 기지상과 정합을 이루는 고해상도 전자현미경을 이용한 실험적 관찰로 부터 스트레인 유도 정방정화 (strain-induced tetragonality)를 정의하고, 관련된 선형 탄성학과 실제 HRTEM 이미지의 관찰을 기반으로 초기의 무 응력 격자상수를 계산하여 초기에 상당한 격자상수의 불일치가 형성됨을 이론적 및 실험적으로 제시하였다.

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