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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국현미경학회 한국현미경학회지 한국현미경학회지 제39권 제1호
발행연도
2009.1
수록면
79 - 83 (5page)

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We report a useful method to estimate the electron dose rate which may be a decisive factor to characterize sample properties. Even though most mircoscopes have their own exposure meters, there are several practical concerns when such exposure meters are used to measure the electron dose rate: 1) Specimen should be avoided within the entire area of exposure meter; 2) beam current has to be always recorded whenever the operation mode is changed; 3) the electron dose rate can not be calculated for the beam current beyond the detectable range. To overcome these limitations, we suggest a useful method which utilize a CCD (charge coupled device) camera which is now a popular detector to obtain the final electron micrographs. We have evaluated the CCD sensitivity using the linear relationship between electron current on the exposure meter and counter ratio on the CCD camera which are built in KBSI-HVEM (high voltage electron microscope). Applying the new method, we obtained the CCD sensitivity which are approximately 0.039 counts/e- and 1.37 counts/e- for the Top-TV and the HV-GIF CCD cameras, respectively.
#TEM #Electron Dose Rate #CCD

목차

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참고문헌 (9)

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Egerton RF / 1999 / Dose-rate dependence of electron-induced mass loss from organic specimens / Ultramicroscopy 80 : 247 ~ 254 google schola Fan GY / 1993 / High-sensitivity lens-coupled slow-scan CCD camera for transmission electron microscopy / Ultramicroscopy 52 : 21 ~ 29 google schola Fan GY / 2000 / Digital imaging in transmission electron microscopy / Journal of Microscopy 200 : 1 ~ 13 google schola Ishizuka K / 1993 / Analysis of electron image detection efficiency of slowscan CCD cameras / Ultramicroscopy 52 : 7 ~ 20 google schola James ZC / 2008 / A dose-rate effect in single-particle electron microscopy / J Structural Biology 161 : 92 ~ 100 google schola

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