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Ag(Ta,Nb)O3 materials have a perovskite structure with a low loss tangent. These materials have been widelyresearched for their applications as high-frequency, passive components. Also, Ag(Ta,Nb)O3 materials have weakfrequency dispersion with high dielectric permittivity which gives them enormous potential for use in electroniccomponents, including the filters, and embedded capacitors. Therefore, our research will discuss the structural andelectrical relaxation properties of Ag(Ta0.8Nb0.2)O3 ceramics for device applications. We will investigate using X-raydiffraction to understand their structural properties and will analyze voltage dependent leakage current and timedependentrelaxation behavior to understand their material properties.

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