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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제28권 제3호
발행연도
2015.1
수록면
149 - 153 (5page)

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AC-PDP는 패널의 온도가 증가하면서, 최소 구동 전압이 증가하게 된다. 또한 셀에 방전이 지속될수록 리셋 구간에서 강방전 확률이 증가하게 된다. 본 논문에서 우리는 방전 지연 시간과 black noise와 bright noise 같은 오방전 메커니즘과 상관관계를 분석하였다. 우리는 방전 지연 시간의 변화를 MgO에서 발생하는 exo-electron emission의 특성으로 표현하였다. 게다가 우리는 오방전들의 주요 인자가 MgO 표면에서 발생하는 electron emission 능력의 변화에 관련되었다는 것을 발견하였다.

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