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논문 기본 정보
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- 학술저널
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- 발행연도
- 2002.1
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The degradation characteristics versus MgO additive for the ZnO ceramic devices fabricated by the standard ceramic techniques are investigated in this study. These devices were made from basic Matsuoka's composition. Especially, MgO was added to analyze the degradation characteristics and devices were sintered in air at 1200℃. The conditions of DC degradation test were 115±2℃ for 12h. Using XRD and SEM, the phase and microstructure of samples were analyzed respectively. The elemental analysis in the microstructures was performed by EDS, E-J analysis was used to determine α. Frequency analysis was accomplished to understand the relationship between RG and RB with the electric stress at the equivalent circuit.
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