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저널정보
한국전기전자재료학회 Transactions on Electrical and Electronic Materials Transactions on Electrical and Electronic Materials 제12권 제1호
발행연도
2011.1
수록면
32 - 34 (3page)

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A zero-shrinkage sintering process in which the shrinkage of the x-y axis is controlled to be zero is in great demand due to the high integration trend in ceramic modules. Among the zero-shrinkage sintering processes available, the glass infiltration method proposed in the preliminary study with an Al_2O_3/Glass/Al_2O_3 structure is one promising method. However, problems exist in regard to the glass infiltration method, including partially incomplete joining between Al_2O_3 and glass layers due to the precipitate of Ti-Pb rich phase during the sintering process. Therefore, we wish to solve the de-lamination problems and suggest a mechanism for delamination and the solutions in the zeroshrinkage low temperature co-fired ceramic (LTCC) layers. The de-lamination problems diminished using the Pb-BSi-O glass without TiO_2 in Pb-B-Ti-Si-O glass and produced a very dense zero-shrinkage LTCC.
#Zero shrinkage #Glass infiltration #Al_2O_3/Glass/Al_2O_3 #De-lamination #Low temperature co-fired ceramic

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