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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제25권 제11호
발행연도
2012.1
수록면
926 - 929 (4page)

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RTA가 증가함에 따라 grain의 크기가 점차 성장됨을 알 수 있었으며, 특히 RTA 750℃ 이상에서는 grain의 크기가 크고 뚜렷하게 성장됨을 확인할 수 있었다. 측정전압(-5~+5 V)에서 유전상수는 RTA가 증가함에 따라 증가되었고, RTA 750℃ 이상에서는 유전상수가 100 이상으로 크게 상승됨을 알 수 있었다. 또한 각 RTA에서 주파수가 증가함에 따른 유전상수는 거의 일정한 값을 나타내었고, 유전손실의 주파수 특성은 약 0.03 정도의 아주 안정된 값을 얻었다.

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