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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제26권 제5호
발행연도
2013.1
수록면
341 - 346 (6page)

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전하의 포획과 방출 현상으로 인하여 발생하는 문턱전압 이동이 박막트랜지스터(thin-film transistor: TFT)의 드레인 전류에 주는 영향을 AIM-SPICE 툴에 구현하였다. TFT를 켜고 끄는 전압을 순차적으로 인가하여 전하의 포획과 방출 과정을 추출하였으며, 각 과정은 여러 개의 이산적인 과정으로 분리되는 수치 모델로 표현되어 컴퓨터 프로그램으로 구현되었다. 시뮬레이션 결과는 모델링하고자 하는 측정치와 전반적으로 일치함을 확인하였다. 이 방법은 TFT의 거동 모델과 독립적이므로 SPICE 툴에 구현되어 있는 기존의 TFT 모델에 결합이 가능하다.
#Threshold voltage shift #Modeling #SPICE

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A. A. Fomani / 2011 / / J. Appl. Phys 109 : 084521 ~ google schola Ching-Lin Fan / 2010 / New Pixel Circuit Compensating Poly-si TFT Threshold-voltage Shift for a Driving AMOLED / Journal of the Korean Physical Society 56 (4) : 1185 ~ 1189 google schola G. Gu / 2007 / / J. Appl. Phys 101 : 014504 ~ google schola H. Klauk / 2010 / / Chem. Soc. Rev 39 : 2643 ~ google schola I. T. Cho / 2008 / / Secmicond. Sci. Technol 24 : 1 ~ google schola

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