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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제17권 제6호
발행연도
2004.1
수록면
661 - 667 (7page)

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The control of tilt angle for nematic liquid crystal (NLC) with negative and positive dielectric anisotropy on the rubbed homeotropic polyimide (PI) using baking method by hot plate equipment was investigated. LC tilt angle decreased with increasing baking temperature and time. Especially, the low LC tilt angle of positive type NLC (Δε>0) on the rubbed homeotropic PI surface by increasing temperature and time was measured. The tilt angle of positive type NLC(Δε>0) is smaller than that of the negative type (Δε<0) on rubbed PI with increasing baking temperature and time. We consider that the tilt angle of NLC is decreased due to increasing the steric interaction between horizon component of permittivity ε= of NLC and the stress of polymer side chain by high temperature. As the increase of baking temperature, we obtain that AFM (atomic force microscope) image of rubbed PI surface using Hot-plate method has formed better solid micro-groove structure than oven method.

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